3月20日上午，中科院计算所李晓维研究员，应邀在嘉定校区学院大楼一楼报告厅，作了一场题为“数字集成电路测试技术的研究进展”的学术讲座，受到我室100多位师生的热烈欢迎。
李晓维研究员现任中国科学院计算技术研究所研究员、博士生导师、学位评定委员会副主席，中国科学院计算机系统结构重点实验室副主任，兼任中国计算机学会理事、容错计算专业委员会主任，《计算机辅助设计与图形学学报》副主编，IEEE计算机学会亚太地区测试技术委员会（Asia Pacific Regional TTTC）副主席。
讲座内容丰富，涵盖了数字集成电路测试和可测试性设计的基本概念、基本原理和基本方法，数字集成电路测试（含可测试性设计）中若干关键基础问题的研究进展。侧重介绍了中科院计算所近几年取得的重要基础性研究成果及国内外相关研究进展，高性能微处理器测试与可测试性设计的难点与对策，并以某国产微处理器为原型介绍现代微处理器测试与可测试性设计技术方案。
李晓维研究员的讲座，让现场的师生近距离的接触到时代前沿的技术，了解数字集成电路测试的新趋势。讲座现场学术气氛热烈，他还就大家的提问进行了详细的解答。
讲座尾声，计算机系系主任江建慧教授对李晓维研究员在数字集成电路测试方面所做出的突出贡献给与高度的评价，对他专程前来为我院师生作学术讲座表示感谢。(张志飞)
